二手 SONOSCAN C-SAM #9138543 待售

SONOSCAN C-SAM （Confocal Scanning Acoustic Microscopy）是SONOSCAN, Inc.在1980年代開發的先進成像和測量技術。該工具用於可視化和測量極小的聲學現象，如微觀和納米結構，不能通過光學顯微鏡看到。與普通光學顯微鏡相反，SONOSCAN CSAM不需要光源，因為聲波提供了成像所需的能量，而不是光學顯微鏡中通常使用的激光束。這是一種無損分析方法，需要最小的樣品制備。C-SAM儀器有兩個組件：一個微觀傳感器和一個檢測設備。微觀換能器產生的聲波被調諧到樣品的共振頻率。換能器還充當聲學透鏡，允許聲波以明確的模式傳輸、聚焦和收集。透鏡的設計目的是將聲波能量聚焦在被檢查樣品的表面上，使材料可以在兩個軸（x和y）中探測。當聲波穿透樣品表面時，會產生波形變化，然後被檢測系統檢測到。檢測單元通過測量聲波特征來確定材料的聲學特性。通過測量聲波波形的頻率、振幅、相位和功率，檢測機器可以確定材料的聲學特性，然後將其用於產生圖像。該圖像可以用數字或光學顯微鏡查看，以比較結果並驗證成像精度。CSAM可用於測量廣泛的材料特性，包括厚度、孔隙度、彈性、熱聲不匹配、聲波傳播、聲阻抗、表面紋理和聲速。SONOSCAN C-SAM工具產生的聲波也能夠檢測材料缺陷，如裂紋、空隙和材料中的其他不連續性。SONOSCAN CSAM是一個寶貴的工具，用於檢查從聚合物到金屬的各種材料，以及用於檢查和測量微電子元件。該資產能夠提供有關材料聲學特性的精確信息，並能夠通過光學顯微鏡檢測不可見的缺陷，使其非常適合用於缺陷分析、質量控制、醫學診斷和科研應用。