二手 VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9082264 待售

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ID: 9082264
Atomic Force Microscope (AFM) Includes: Controller: DI Dimension 3100 Nanoscope Vacuum, DI scanning probe microscope Nanoscope extender: #EX-1 Acoustic sound hood Anti-vibration table Pc with software Dell monitor (1) Keyboards (2) Mouse (2) Trackball (1) Extender device Cables: Power cables, cat5 cables, parallel port cables, and air hoses Manual.
VEECO/DEKTAK Dimension 3100是一款非接觸式3 D表面測量設備。它是為分析微結構而設計的先進顯微鏡。該系統使用共焦成像光譜技術來提供高度精確和可重復的測量。顯微鏡具有自動化的XYZ/Z電機控制級,便於樣品處理.該單元還包括用於精確數據分析和顯示的先進數字圖像采集和分析軟件包。顯微鏡的光學機器由高分辨率的Leica/Olympus Trinocular顯微鏡組成,具有可互換的框架和目標。目標可以從4倍到100倍不等,工作距離從4毫米到0.4毫米不等。該工具配有CCD相機和LED閃光燈,用於在明場、暗場、斜光和反射光中成像。該資產還可用於定制熒光濾波器集。該模型配備了一個用於精確測量和校準樣品的自動控制器。控制器具有高度靈敏的7軸線性驅動設備,可精確地通過物鏡移動樣品。控制器的旋轉運動為0.3µm,轉速範圍可調。它還具有電子標題工具,有助於設置對齊和調整樣品。VEECO Dimension 3100提供了廣泛的測量功能。它具有自動邊緣檢測功能,可用於測量元件和曲面的高度、深度和平坦度。該系統還提供曲面粗糙度測量功能以及曲面結構輪廓。憑借其3D采集技術,該單元可以精確測量復雜的形狀、顛簸和突起。總體而言,DEKTAK Dimension 3100是精確且可重復的3D表面和微觀結構測量的理想選擇。它有一個靈敏的光學機器,用於高度精確的測量和精確的圖像捕獲。其自動化的XYZ/Z電機控制級確保了樣品定位的方便。此外,其先進的軟件包還可以進行高效的數據采集和分析。總而言之,該工具為用戶提供了快速、精確和可靠的測量和輪廓可視化。
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