二手 VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9261419 待售

VEECO / DEKTAK Dimension 3100
ID: 9261419
Atomic Force Microscope (AFM) Nanoscope V Controller included.
VEECO/DEKTAK Dimension 3100是一種高度精確的尖端SPM(掃描探針顯微鏡),旨在提供對半導體材料和器件的地形、供體和受體密度和電阻率的高分辨率測量。VEECO Dimension 3100提供多種功能強大的功能,幫助用戶更深入地了解他們的樣本, 例如Advanced AutoCenter技術,可輕松精確地對齊樣品, 手動和自動自動零功能可減少環境噪聲,多用途光學配置可測量各種接觸和非接觸模式測量, 和拉曼光譜法測量與所研究材料類型相關的特定電性能。DEKTAK Dimension 3100還提供了高級測量,如長掃描測量、專門的AFM(原子力顯微鏡)技術、大量設計良好的成像工具,以及光譜測量和電氣測量。Dimension 3100的XY掃描範圍為10 μ m, Z範圍為0.4 μ m,因此能夠以極高的分辨率執行廣域映射和精細分析。還可以相對快速地獲取數據,成像速度為5-20赫茲。VEECO/DEKTAK Dimension 3100采用堅固的結構構建,並針對超低振動進行了優化,以確保盡可能精確、詳細的成像。它適合於手動和計算機控制,非常適合希望在測量靈活性方面達到極限的用戶。其龐大的操作窗口和用戶友好的界面也讓操作變得輕松。此外,VEECO Dimension 3100提供的軟件允許數據收集和分析、交互式參數化映射以及對捕獲圖像的快速分析。總而言之,DEKTAK Dimension 3100是一款先進、功能強大的掃描探針顯微鏡,一定能為用戶提供高精度的測量和寶貴的洞察力。其多才多藝的特點、堅固的構造和用戶友好的界面,使其成為研究在一系列科學領域使用的材料和設備的非凡工具。
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