二手 VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9302575 待售

VEECO / DEKTAK Dimension 3100
ID: 9302575
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DEKTAK Dimension 3100是一種多組分掃描探針顯微鏡(SPM)設備,為樣品表面提供高分辨率的地形、機械和電氣表征。它擁有一個具有主動反饋系統的異常穩定的掃描平臺,廣泛應用於材料科學、納米科學、半導體器件和MEMS等一系列研究和工業應用,以及用於納米和摩擦學。VEECO Dimension 3100包括一系列硬件組件,設計用於測量和分析樣品。主要組件是掃描頭、舞臺、顯示屏和控制器。掃描頭是安裝在精密定位器上的高分辨率高速XYZ掃描儀。它可以以納米尺度遞增的速度對樣品表面進行成像和移動,分辨率降至0.3 nm。舞臺是一個電動平臺,當掃描頭進行測量時,將樣品相對於XYZ掃描儀移動。顯示器是一個強大的圖形用戶界面,它以各種模式(包括實時圖像和定性圖像)以高達50 nm/pixel的分辨率顯示樣品曲面。顯示屏還允許用戶控制掃描參數,如掃描速度、顯示增益、掃描窗口的大小和速度以及不同的特性(如表面積、粗糙度和連續性)。DEKTAK Dimension 3100還具有額外的機械和電氣部件,例如力和電氣傳感器,可實現樣品的無損機械和電氣特性。力傳感器可以測量樣品的硬度、剛度和摩擦特性,電傳感器測量表面電阻率、數據傳輸等特性。最後,控制器是與Dimension 3100的硬件組件連接的基於PC的單元。它包括幾種預編程的控制算法,能夠進行復雜的多參數掃描。控制器還允許對來自機器的測量結果進行分析和實時數據顯示。總體而言,VEECO/DEKTAK Dimension 3100提供了精確度、精確度和多功能性的卓越組合,可用於各種成像和材料特性鑒定任務。該工具的硬件和軟件組件協同工作,以易於使用和可靠的方式提供高質量的結果。
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