二手 VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9386222 待售

ID: 9386222
晶圓大小: 6"
Atomic Force Microscope (AFM) Vacuum wafer chuck, 6" Stage with enhanced motorized position Inspectable area: 125x100 mm Nanoscope 3D controller Quadrex extender System computer (2) Flat panel monitors Digital instruments keyboard, mouse(Trackball) TMC Micro-G isolation table Light tight enclosure Operations manuals CE Marked.
VEECO/DEKTAK Dimension 3100是一種多功能掃描電容顯微鏡,非常適合對表面特性進行詳細測量。設備設計包括一個VEECO Dimension 3100主單元、一個帶V7軟件的數據站和一個電動舞臺。它提供30微米的垂直測量範圍,能夠以高達400微米/秒的速度掃描35毫米大小的區域,大大縮短了數據收集時間。DEKTAK Dimension 3100的大面積掃描功能允許在一次掃描中同時分析多個結構。Dimension 3100配備了一個集成的自動裝載機,允許進行多次樣品測量,而無需恒定的操作員存在。該系統還包括一個集成的質量控制管理器(QCM),它使用基於掃描數據的預測分析來確保一致和可靠的測量。集成電容測量頭也具有很高的可調性,能夠測量從0,02到500 nm的14種不同的薄膜厚度校準。VEECO/DEKTAK Dimension 3100能夠執行各種表面分析技術,如地形測量、粘合劑/不透明厚度測量、薄膜應力測量和蝕刻剖面分析。該單元還可以測量臺階高度、孔直徑、空間和塗層厚度等輪廓,從而無需在一個實驗室設置中使用多種儀器。其他功能包括集成的LithoScope軟件,用於步長分析以及交互分析和虛擬計量。該機器與3 D Sculptor、Explorer Kit、Image Editor等各種軟件應用程序集成。集成的「對齊和跟蹤」功能還允許用戶繪制圓、線和曲線來測量樣本特征。VEECO Dimension 3100是針對各種實驗室和表面分析技術優化的高性能掃描電容顯微鏡。其測量面積大,特點綜合,非常適合同時測量和分析多種結構和薄膜,獲得準確可靠的結果。
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