二手 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9203396 待售

ID: 9203396
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Atomic Force Microscope (AFM), 12" 2006 vintage.
VEECO/Depak VEECO/DEKTAK Dimension X3D是一種用於測量和分析納米級材料的最先進的掃描微探針顯微鏡。該顯微鏡利用原子力和掃描隧道顯微鏡的組合,提供超高分辨率成像、實時成像和快速數據分析。該儀器能夠進行先進的表面分析和材料表征,使研究人員能夠分析各種難以測量的材料。VEECO Dimension X3D是半導體制造工藝開發、材料科學、生命科學、工程等領域研發的寶貴工具。它主要用於測量表面臺階、空隙、晶界、納米級缺陷以及各種材料的結構特征。它甚至可以用來分析納米級粗糙度測量,測量納米化的粒子。DEKTAK Dimension X3D可以測量多種材料,如無機、有機和聚合物。該儀器還具有對曲面高角度傾斜圖像成像、確定表面粗糙度、測量聚合物納米螺紋、研究納米結構細節等廣泛應用。Dimension X3D顯微鏡的主要特點是其高精度和高質量的成像能力。顯微鏡配備了非常精細的XYZ定位系統,以獲取納米結構的高精度圖像。該系統能夠以低至0.1度的傾斜角獲取高分辨率圖像。此外,在整個測量範圍內都保持高分辨率。為保證結果的最高精度,儀器還具有閉環觸發系統和抗振功能。除了出色的成像能力外,VEECO/DEKTAK Dimension X3D還提供了強大的分析工具。能夠高精度測量尺寸參數,如表面步高、溝槽深度、表面粗糙度等。這使得研究人員不僅可以獲得一種材料的詳細圖像,而且能夠進行定量測量,從而對他們的研究提供更多的洞察力。「尺寸」(Dimensions) X3D是一種提供頂端線條特征的尖端儀器。它具有高分辨率的成像、精確的分析和先進的特性,使其成為任何實驗室的寶貴工具。這使得它成為任何需要在納米級別表征材料的組織的理想選擇。
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