二手 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9298810 待售

VEECO/DEKTAK Dimension X3D顯微鏡是一種高分辨率掃描探針顯微鏡（SPM）設備，設計用於在微觀尺度上測量表面地形。它用於納米分辨率的表面剖面測量和分析。VEECO Dimension X3D由四個基本組成部分組成：SPM頭,其中包含創建和檢測尖端-樣本相互作用的機制；驅動器和控制器單元；顯微鏡，包括成像和光學組件；以及用於控制和數據分析的計算機系統。SPM頭可以在三個維度上掃描任意方向的樣本,速度高達2000 nm/sec。真空卡盤將樣品固定在適當的位置，可以使用XY或XYZ級在微米和納米級精確定位樣品。使用正確的探頭和懸臂尖端,DEKTAK Dimension X3D能夠執行多種表面成像模式,如接觸模式和非接觸模式。在接觸模式（也稱為'力模式'）下，由在樣品表面掃描的尖尖（通常是矽AFM探針）產生相互作用力。非接觸模式成像（也稱為「敲擊模式」）是通過懸臂尖端在樣品表面上的振蕩運動（敲擊）來完成的,從而產生無損、低力的相互作用。尺寸X3D顯微鏡配有用於數據采集和分析的高性能軟件。它具有邊緣檢測和曲面成像功能,允許用戶精確測量曲面特征。此外,該單元還能夠測量接觸/非接觸模式的運動和力曲線。VEECO/DEKTAK Dimension X3D機是一種正常運行的主力軍,允許長時間、不間斷的成像時間而不會過熱。它設計為直觀的使用，並可以快速付諸行動，有幾個快速的步驟。總體而言，VEECO Dimension X3D對於需要可靠準確的SPM工具來測量納米尺度表面地形的研究人員來說是一個極好的選擇。由於其相對易用性和出色的成像能力，它是任何需要在納米尺度上觀察材料的應用的理想選擇。