二手 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9390606 待售

VEECO / DEKTAK Dimension X3D
ID: 9390606
Atomic Force Microscopes (AFM).
VEECO/DEKTAK Dimension X3D,是一種高性能垂直掃描顯微鏡,設計用於廣泛的計量和顯微鏡應用。該X3D采用集成視覺設備,利用2048 x 2048高分辨率圖像傳感器進行自上而下的樣品查看。該X3D是可用的最精確和可重復的垂直掃描顯微鏡之一,沿z軸的分辨率可能為1 nm, x軸和y軸測量的分辨率可能高達0.1 um。該X3D為測量數據提供了極好的可重復性。X3D包括多種功能,可確保高精度、可重復的測量。該X3D采用柵格圖樣照明系統,在整個樣品區域提供均勻強度。這提供了均勻的照明,提高了掃描和測量高度時的精度。該X3D還包括一個功能強大的圖像處理單元,放大倍數可達32倍,可實現詳細的樣本成像。該機器能夠進行明場、暗場和熒光成像,以及自動化的即時測量計算。X3D包括多種操作模式,包括掃描、地圖、傾斜和高度。這些功能允許用戶生成地形圖、校準和驗證測量結果以及執行高級計量應用程序。掃描模式允許用戶生成2D掃描,而地圖模式自動生成位置精度高達0.15微米的高分辨率3D地形圖。傾斜模式對角度高達70°的樣品執行投影3D曲面地形測量,允許用戶分析曲面粗糙度和非平面輪廓。高度模式測量絕對高度,位置精度高達0.3微米。X3D最受歡迎的功能之一是Metrology Package軟件,它可以自動完成從校準到數據采集的整個測量過程。此功能減少了操作人員的嚴重錯誤,並提高了測量的總體準確性和吞吐量。X3D還具有較大的舞臺區域,可選的電動舞臺XY驅動器可提供高達150毫米的範圍。此功能為從材料研究到設備工程的一系列應用程序提供了一個大工作區。該X3D是研究人員和工程師尋找可靠、可重復測量工具的理想顯微鏡。其強大的成像功能和測量功能使其非常適合各種應用程序。從常規的非接觸掃描到超精密的高分辨率測量,X3D是完成工作的完美工具。
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