二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS D3100 #293826410 待售

ID: 293826410
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS D3100是一種用於觀察先進納米特征的顯微鏡。它采用了專利的Minibeam Profiler TM平臺,該平臺利用組合掃描光學Profiler (SCALP)和時間解析光譜(TRExTM)來支持快速和高分辨率的納米級特征表征。VEECO D3100是唯一配備多微尺度計量技術的自動化剖面儀,使納米尺度計量能夠與光學成像相結合。DIGITAL INSTRUMENTS D3100具有先進的光學和機械元件,使研究人員能夠快速、精確和準確地測量小型特征,例如納米樣品的高度和寬度。顯微鏡采用高分辨率彩色相機,專為捕捉納米特征的圖像而設計。相機與配有光學變焦設備的共焦顯微鏡相結合,使研究人員能夠準確聚焦感興趣的特征。D3100成像系統配備了多種高端成像模式,包括:擴展景深成像、3D成像、更高分辨率(20海裏)、增加景深(0.01至400.00 μ米)、快速成像(4dE或1.9 msec/像素)和熒光成像。顯微鏡的成像模式通過創建圖像堆棧來工作,其中堆棧的每一層都包含從同一視場拍攝的單獨圖像。這使研究人員能夠通過單個設置捕獲納米特征的詳細3D圖像。相機還支持熒光成像等傳統成像技術,用於熒光樣品成像。此外,顯微鏡還包括樣品管理單元,使其能夠自動旋轉、壓縮和記錄樣品。這有助於減少用戶的手動操作量,並有助於提高效率。最後,VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS D3100包括手動和自動化的樣本對齊和定位功能。本機可用於對準多個樣品,確保顯微鏡被精確校準成像。該工具還使樣品登記快速、容易,使樣品能夠快速、準確地設置。該資產還降低了樣品損壞的風險。VEECO D3100是一種功能強大的設備,旨在幫助研究人員對納米特征進行最精確的測量。它是一種通用顯微鏡,能夠捕捉高分辨率圖像,並提供一系列成像技術。自動化的樣品管理模型使樣品設置和操作變得簡單高效,降低了樣品損壞的風險。利用強大的光學和機械元件,研究人員能夠對納米特征進行快速和精確的測量,提高其結果的準確性和可靠性。總體而言,DIGITAL INSTRUMENTS D3100使納米級計量更簡單、更快。
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