二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS D3100V #9292569 待售

ID: 9292569
優質的: 1999
Atomic Force Microscope (AFM) 1999 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS D3100V系列掃描探針顯微鏡(SPM)是一種最先進的成像和測量系統,旨在提供地形和幾何方面的增強測量。該系列允許對材料、表面和界面進行表征,其分辨率高達納米。它具有靈敏的接觸模式,可以用穩定的力進行測量,以實現精確的成像。VEECO D3100V系列允許通過高分辨率3D成像、可變工作距離以及包括標準銳化尖端和各種矽尖端在內的多種可互換探頭來研究地形和幾何。DIGITAL INSTRUMENTS D3100V系列以邊緣視圖光學顯微鏡、自動對焦機構、與HeNe激光器或532nm氙氣激光器集成的激光器系統為特色。該系列是aslo配備壓電級允許更高的角度分辨率和更低的激光幹涉。D3100V系列包括直觀的軟件,該軟件向SPM發送命令,以使用力感測手寫筆執行垂直、均勻的采樣。它提供了多種高級功能,例如自動同步驅動器鏡像、壓縮圖、光學變焦和光學聚焦的AutoView,以保持光學序列所有部分之間的對準。此外,它還包括一個虛擬手寫筆,使用戶能夠以可重復的精度捕捉地形圖像。其他功能包括一個可編程的波形發生器,允許動態操作尖端。這有助於精確測量曲面並提高其測量能力的靈活性。自動掃描字段對齊功能會自動使樣本和指針失速,從而產生精確的成像效果。此外,使用彩色3D曲面顯示,用戶可以難以觀察地測量曲面結構和特征。總體而言,VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS D3100V系列掃描探針顯微鏡提供了增強的成像功能,包括自動聚焦、可變工作距離、可互換探針、直觀軟件和可編程波形等功能,可幫助捕獲準確和可重復的測量結果。它旨在精確測量材料、表面和界面,分辨率高達納米。
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