二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293585800 待售

ID: 293585800
優質的: 2003
Atomic Force Microscope (AFM) 2003 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 3100是一種高性能掃描探針顯微鏡(SPM)。它非常適合廣泛行業中的各種地形、電氣和材料表征應用。VEECO Dimension 3100通過結合SPM、接觸模式成像和AFM(原子力顯微鏡),利用高分辨率、定量的數據采集和成像能力,此外還結合了可重復的漂移校正,以及高速曲線掃描方法。這就產生了高分辨率的圖像和一系列材料的實時顯示能力,包括有機和無機物質。該儀器具有250至5000µm的大樣本量、0.1至150 µm/s的大掃描速度範圍以及高達10-10 bar的真空兼容性。這提供了改進的分析功能,同時保持了較高的準確性。此外,DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100還提供了改進的成像和數據采集速度以及增強的靈敏度。該顯微鏡由於同時具有介質和高真空模式能力,能夠獲取任何類型樣品的數據,包括半導體和生命科學樣品。此外,顯微鏡還具有摩擦反演的特點,它允許對地形變化較大的表面(如臺階或凹槽)進行詳細的圖像,從而能夠將樣品定性到納米級。它還提供了一個自動掃描模式,使用戶能夠以可復制的方式掃描樣本,amd一個簡單的探針交換系統,它允許用戶快速、輕松地在不同的探針提示之間切換。在定制方面,Dimension 3100包含兩種軟件語言:傳統的Win 32應用程序編程界面,易於學習和修改,以及一種新的開源腳本語言,允許用戶獨立開發自定義測量腳本。最後,儀器還包括多種配件,如真空卡盤、溫度控制器和長期漂移校正裝置,使用戶可以進一步增強工具根據自己的具體需求量身定制的能力。總體而言,VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是一種功能強大的多功能掃描探針顯微鏡,旨在為各種材料提供高分辨率成像和定量數據采集。它包含了一系列功能,如摩擦反演和自動掃描模式,以及快速掃描速度和簡單的探針交換系統,使用戶能夠準確地描述和分析各種樣本。
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