二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293595294 待售

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ID: 293595294
Atomic force microscope M/N: D3100S-1.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 3100是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於高級成像應用。它結合了其25.4毫米的大樣本室和廣泛的檢測包,提供了先進的成像能力。該儀器具有易於使用的圖形界面和專用的前面板,使研究人員能夠控制所有必要的參數。VEECO Dimension 3100具有6.2 cm2的大帶磁耦合器件(CCD)成像檢測區域,具有1280 × 1024像素的分辨率和從低壓SEM到高壓地形和電子反向散射衍射(EBSD)成像的廣泛成像模式。它的大樣箱容量可達11個樣箱,可變腔室壓力在0.1毫巴至0.6毫巴之間。該儀器還提供了4個成像探測器的選擇;濾波反向散射二次電子(BSE)檢測器、透鏡內二次電子(SE)檢測器、高能BSE檢測器和反向聚焦nEDXSD檢測器。BSE探測器具有高達30幀/秒的快速圖像采集速率和極低的噪聲水平,提供高對比度和清晰的成像特征清晰度。鏡頭內SE檢測器設計成產生高分辨率的陰極發光影像和衍射圖樣,讓使用者控制發射光的光譜和亮度。nEDXSD檢測器提供實時元素信息,檢測時間小於一分鐘,可檢測元素的範圍可擴展至20%。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100還配備了第三代EBSD系統,可以對多晶材料的衍射圖樣進行快速準確的索引。該系統還允許角度圖模式分類、晶界的詳細表征以及晶體取向的自動分析。此外,該儀器還包括一個完全集成的自動化樣品轉運階段,使樣品能夠從實驗室方便和安全地運輸到SEM。總之,Dimension 3100是一種先進的掃描電子顯微鏡,為增強成像應用提供了廣泛的功能。它提供了一個大的樣本室,多個成像探測器和一個方便的自動化樣品傳輸階段,讓研究人員能夠快速、方便地獲得高分辨率的成像結果。
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