二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293605773 待售

ID: 293605773
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM)和強大的微觀成像工具。顯微鏡為用戶提供了高分辨率和高度詳細的曲面和表面圖像,直至原子水平。顯微鏡適用於一系列學科和行業的研究應用,包括材料科學、半導體工程和取證。VEECO Dimension 3100 SEM具有5mm至16 mm之間的可變工作距離和40V至30KV的加速電壓範圍。現場發射電子槍和柱內單極透鏡設備提供高分辨率成像。顯微鏡還配備了數字圖像處理器,能夠以6,000倍的放大倍率捕獲圖像,分辨率高達5 nm。高分辨率成像允許粒子分析、微觀結構表征、缺陷檢測、化學分析和3D成像。化學分析包括EDS分析和一個計算機控制的全自動EDS程序,用於能量色散X射線光譜的自動定性和定量化學分析。通過3D成像功能,可以對樣品曲面進行詳細的3D結構分析以及對表面地形成像。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 SEM也有可選的高分辨率大面積STEM成像系統。該單元非常適合於大面積和完整樣品體積的成像和分析,例如用於分析微電子元件和表面。此外,顯微鏡還配備了電子反向散射衍射機,可以對晶體學樣品結構進行全場研究。用戶界面直觀易用,可通過觸摸屏液晶面板或連接的計算機使用。該工具還提供高級圖形功能,圖像可以通過屏幕顯示進行評估,也可以導出到第三方軟件進行進一步分析。總之,Dimension 3100 SEM是一種高級成像工具,具有高分辨率成像和分析功能,具有多種功能。直觀的用戶界面、高級圖形功能和可選的大面積STEM映像資產使其成為一系列應用程序的理想選擇。
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