二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293633028 待售

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ID: 293633028
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是專為納米級研究而設計的高性能掃描探針顯微鏡(SPM)。它是納米技術和材料科學應用的理想選擇,允許研究人員在納米級對樣品進行成像和分析。VEECO Dimension 3100附帶了強大的軟件包,允許用戶準備樣本、獲取圖像和分析數據。它具有電動X-Y掃描儀和電動Z-piezo,這兩個組件是獲取各種高分辨率圖像所需的。X-Y掃描儀提供8毫米x 8毫米的控制範圍,阻抗匹配壓電在Z中的精度為0.1納米,對於成像和分析樣品,DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100提供了不同的成像模式。其中包括接觸模式、非接觸模式和敲擊模式。接觸模式用於成像硬質材料,非接觸模式用於成像軟表面,敲擊模式用於測量材料的機械性能。另外,Dimension 3100有共焦模式和開爾文探針力顯微鏡等選項,以進一步分析可能性。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 3100的optomechanical system也為用戶提供了出色的樣品處理能力。它具有自動聚焦、柱頭控制和帶集成驅動器系統的舞臺控制器。焦點控制機動化,可設定精度0.1納米。柱頭控件允許用戶在保持最佳焦點的同時快速調整樣品的xz和yz傾斜。舞臺控制器使用戶能夠相對於Z方向微調樣本方向。VEECO Dimension 3100也有各種各樣的目標。這些目標從50倍到1000倍不等,為研究人員提供了出色的分辨率。可變放大倍率和物鏡確保始終為每種樣品獲取最佳圖像。這些目標還與廣泛的分析儀兼容,如光譜學、光伏分析、開爾文探針力顯微鏡、納米光刻等。總體而言,DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是一種非常先進且功能強大的掃描探針顯微鏡,可為研究人員提供卓越的圖像質量、分辨率和分析能力。它是探索納米級材料的理想工具,讓研究人員有機會觀察和測量以前不可能的性質。
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