二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293658621 待售

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ID: 293658621
Atomic Force Microscope (AFM) NanoScope IlIa SPM System AFM Controller Surface analysis.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是一種通用的掃描電子顯微鏡(SEM),用於對各種材料和微觀結構進行成像和分析。顯微鏡設計用於產生金屬、聚合物、生物材料和納米材料等樣品的高分辨率圖像。它結合了能量色散X射線(EDS)分析、電子反向散射衍射(EBSD)、陰極發光(CL)等先進技術進行高分辨率成像。這種先進的工具能夠產生分辨率高達1納米的圖像,並且能夠快速準確地評估半導體和其他納米級材料的3D特征以及形態和缺陷。顯微鏡的獨特功能包括基於機器人的樣本處理和導航、高級數據處理、樣本篩選和自動功能列表。顯微鏡的15kV電源能夠傳送各種樣品和材料的高分辨率圖像。它還具有高性能嵌入式計算機,具有高級軟件程序和廣泛的神經元網絡功能,以及用於聚焦性能、光斑大小調整和圖像放大的自動化控制。此外,顯微鏡還提供分辨率低至50 eV的高速EDS分析,用於精確的元素替代品,以及精確的EBSD測量和CL分析。VEECO Dimension 3100還包括一些其他配件,以進一步優化其性能。其中包括種類繁多的探測器、自動化組件、樣品支架、光束消隱裝置和控制旋鈕。顯微鏡還能夠處理各種環境條件,可以在-20和60°C的溫度下工作,以及高達85%的相對濕度。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100由於其多種特性的結合,使科學家和研究人員能夠以前所未有的速度、精度和精確度探索和成像現代材料和微結構。其高分辨率和自動化功能消除了人工幹預,並最大限度地減少了樣品分析所需的時間,使其成為用於研究和工業中的顯微鏡數據量化的理想工具。
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