二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293765675 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 Scanning Probe Microscope是一種先進的多功能原子力顯微鏡(AFM),設計用於納米級研究和測量。它是一種通用工具,用於表征納米顆粒、納米線、聚合物、蛋白質和DNA等納米結構。掃描探針顯微鏡采用懸臂和電動掃描儀,具有強大的納米精度和靈敏度。3100型號采用電動x-y掃描儀,用於成像和處理納米結構和表面,提供先進的分辨率和高速度。X-y掃描儀通過SmartScan軟件進行控制,提供z-piezo校準、調整掃描速度、控制掃描大小和形狀等功能。它非常適合諸如成像和測量納米表面、表征納米結構中的應變分布、檢測納米結構缺陷以及成像和測量懸掛在基板上的納米結構等應用。3100掃描探針顯微鏡還能夠進行力調制和光譜。這提供了測量樣品表面局部彈性常數或探索尖端-樣品相互作用電位的能力。另外,顯微鏡還配備了執行力距離曲線,測量納米級粘合力,研究摩擦、電子和光學力顯微鏡等復雜物理現象。VEECO Dimension 3100是一款多功能AFM,結合了高度可靠的閉環壓電恒力致動器和光學激光幹涉儀。這提供了卓越的位置穩定性和準確性,確保可靠和可重現的結果。顯微鏡還包括高帶寬執行器,允許快速掃描速率與最小漂移和噪聲。3100顯微鏡的控制單元集成了12英寸液晶觸摸屏界面和圖形用戶友好的數據分析軟件。這使用戶能夠快速準確地記錄、分析和存儲圖像。集成PC和SmartScan軟件進一步增強了DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100的數據管理能力,使數據存儲和管理變得輕松高效。尺寸3100掃描探針顯微鏡是探索納米級研究和測量的有力工具。其電動x-y掃描儀、高帶寬執行器和幹涉控制單元可實現精確、可靠和可重現的測量。此外,綜合數據管理軟件簡化了數據存儲、分析和管理。
還沒有評論