二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9160895 待售
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單擊可縮放
ID: 9160895
Atomic Force Microscope (AFM)
Maximum sample size: 8” Diameter, 0.5” thick
Inspection area: 100 x 125 mm
Small samples: Magnetic holder < 15 mm diameter
Silicon wafers: 2”-8"
AFM Probe station with shockproof pressure balance system
Video zoom microscope
Integrated zoom optical microscope
Objective: 10x (Long working distance)
(2) TV Camera tubes
Motorized zoom system
Motorized focus
Lens illumination
Color video camera
Focus tracking and automated engagement
Magnification range:
410-1845x With 13” monitor
Field of view: 180-810 µm
Cantilever holder
Standard:
Tapping mode
Contact AFM, MFM
Fluid cell:
Fluid contact AFM
Fluid tapping mode
Parts includes:
AFM Probe station
D3100-1 AFM Probe and test bench
D3100HP-2 AFM NanoScope Dimension 3100 controller
NanoScope IV AFM Scanning probe microscope controller
AFM Control personal computer system:
ViewSonic VE 700 Dual screen system
PC: Intel pentium 4 CPU
DIGITAL INSTRUMENTS Keyboard
HBZ3CY400-4XX AFM Test platform manual mouse.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100掃描電子顯微鏡（SEM）是一種多功能、高性能的研究顯微鏡，設計用於材料分析、納米加工等多種研究應用。VEECO Dimension 3100 SEM配備了高分辨率鎢絲源、大樣本室和場發射源，共同提供了一系列功能，包括成像、自動斷層掃描、電子束光刻、微分析和材料表面分析。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100具有集成成像設備,允許用戶以從亞納米到微米的分辨率拍攝結構化和非結構化樣品的3D圖像。這樣可以對材料表面進行極其精確的測量和成像，從而能夠研究結構和納米加工。集成的圖像捕獲和分析技術還允許對亞微米材料進行三維成像的自動斷層掃描。維度3100還具有場發射源,允許極其精確的納米級成像和分析。此功能允許使用功能強大的顯微鏡系統來檢測和測量跨度小至1nm的對象。另外，由於磁場發射源的緣故，顯微鏡師可以達到比傳統鎢源好20倍的景深。這種改進的景深允許增強對精細細節的分析。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 SEM的大樣本室也讓使用者可以探索各種樣本類型的高放大倍率。這個腔室可以處理尺寸從很大（大於10厘米）到很小（小於1厘米）的樣品。它也是高度通用的，有各種各樣的持有者可用於分析大大小小的樣品。此外,該SEM還配備了自動級控制裝置,可以精確定位樣品,從而進一步提高了顯微鏡系統的性能。總體而言，VEECO Dimension 3100掃描電子顯微鏡是一個非常精確和通用的顯微鏡單元，非常適合多種研究應用，因為它能夠探測到小至1nm的細節，它的大樣本室、集成成像機和現場發射源。
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