二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9199313 待售

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100
ID: 9199313
Atomic Force Microscope (AFM) NS5 Controller Operating system: Windows 7 Vibration enclosure included.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 3100是一種掃描探針顯微鏡(SPM),它結合了物理探針尖端、控制器和計算機,以實現納米級的成像。它由三軸粗掃描階段和兩軸垂直掃描階段組成,兩者都能使樣品在x、y和z方向上精確移動。控制器配有壓電掃描儀來控制尖端取樣距離,以及壓電驅動的x、y和z軸,用於取樣位置的定位和反饋。控制器和計算機都集成到同一個工作站上,以方便和縮短安裝時間。VEECO Dimension 3100提供兩種獨立的成像模式:接觸模式和非接觸(NC)模式。在接觸模式下,顯微鏡的尖端與樣品表面接觸,然後掃描穿過它。圖像是通過測量樣品分子和探針尖端之間的力得到的。這種模式非常適合對柔軟易碎的材料進行成像。或者,NC模式使曲面的成像和操作成為可能,其中尖端放置在距曲面近納米的位置。然後可以通過測量樣品與探針尖端之間的隧道電流差異來獲得圖像。這種模式適用於成像和操縱硬材料,如半導體。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100還能夠使用Scanning-Fourier-Viewing (SFV)技術對表面過程進行實時監控,該技術記錄信號從NSOM探測器接收到的相位或振幅。數據以自動化方式收集,而無需用戶幹預,這提供了分析動態曲面過程的能力。此外,SFV模式還啟用了高分辨率光譜成像,這對於探索表面電子性質和分子尺度現象很有用。尺寸3100是一種成本效益高的納米級成像和操作工具。其集成的工作站消除了對外部數據處理設備的需求,其用戶友好的控制軟件使其易於使用。該軟件還便於數據處理和可視化,並提供了一些圖形工具,以增強對結果的分析和可解釋性。其可靠的成像和操作能力以及高效的操作使其成為生命科學、材料科學和電子學領域納米技術研究的絕佳選擇。
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