二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9203566 待售

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ID: 9203566
Atomic Force Microscope (AFM) With motorized stages Model: 3100S-1 Operating system: Windows XP Includes: TMC Air table With DI Acoustic enclosure DI Scanning head Model: Dmlsg Nanoscope controller: 3A DI Extender box Keyboard & trackball LCD Computer monitor Live monitor, 9".
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是一種用於高級納米尺度計量和表征的工具。它是一種計算機控制的掃描探針顯微鏡,既提供高質量的成像能力,又提供深度分析能力。3100具有先進的掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)、磁力顯微鏡(MFM)以及環境模式的組合,以及二次電子成像(SEI)。VEECO Dimension 3100的STM部分使用戶能夠對低至0.1 nm的特征進行成像,從而可以觀察單個原子和鍵。STM還允許對樣品表面進行原位操作。這一特性使得測試催化反應、移動粒子和檢查反應各個階段的完整性成為可能。這可用於微電子學、納米加工、藥物開發等領域的研究。3100的AFM部分設計用於精確測量樣品的物理特性,如表面粗糙度、滑移角度和摩擦。它通過用專門的探針掃描樣品表面並解釋收集到的信息來做到這一點。用戶還可以測量樣品上的力-距離曲線,這對於測量材料的機械和電氣性能非常重要。MFM提供鐵磁材料的靜態和動態反饋。它利用洛倫茲力和磁力的組合來測量磁晶各向異性和域壁遷移率等性質。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100的MFM元件使磁性薄膜和其他納米級傳感器設計得以表征。Dimension 3100的環境模式使得研究不同條件下的材料成為可能,例如溫度和壓力。這一特性對於專註於半導體制造的研究尤其有用,因為它允許用戶研究反應溫度以及其他環境影響對制造工藝的影響。最後,VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100的SEI組件允許以更高的放大倍數對樣品表面進行成像。這使用戶能夠查看和分析樣本上的晶界、接口和顛簸。SEI對於薄膜、納米材料等相關領域的研究很有用。總之,VEECO Dimension 3100提供了一個功能強大的多功能工具,用於納米級計量和表征。它結合了掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、磁力顯微鏡、環境模式和二次電子成像,為用戶提供了全面的功能包。它是微電子學、納米加工、藥物開發等領域研究人員的理想選擇。
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