二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9227547 待售

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 Scanning Probe Microscope（SPM）是一種研究級顯微鏡，能夠對太小而無法用傳統光學顯微鏡看到的物體進行成像、映射和分析。這個先進的工具使用壓電懸臂來檢測2D和3D測量在納米尺度上的位置變化。VEECO Dimension 3100顯微鏡被學術界、工業界和政府的科學家和研究人員廣泛用於研究納米級結構，如蛋白質、聚合物、半導體和納米線。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100顯微鏡包括幾個組件，如微小的懸臂和高分辨率的sCMOS相機。懸臂由壓電材料制成，響應電場而膨脹或收縮。懸臂安裝在顯微鏡的掃描頭上，在預先定位的顯微芯片上的樣品上操縱懸臂。懸臂的尖端具有檢測樣品中小納米變化的靈敏度。同時，sCMOS相機與顯微鏡的光學器件配對，以捕捉這些變化，並將它們轉移到計算機上作進一步分析。系統的SPM子系統具有專有的反饋算法和傳感器模塊來調節懸臂樣品檢測器。此外,系統能夠掃描小至0.1nm的區域,並創建分辨率高達100 nm的全彩圖像。利用軟件的映像管理模塊,還可以輕松存儲、組織和訪問所有捕獲的映像。Dimension 3100顯微鏡提供了一整套自動化模式和數據分析工具,包括階段掃描分析的組合模式和動態樣本的接觸頻譜。該SPM的設計旨在提取高度準確的信息,即使在粗糙、不均勻和三個維度的表面上也是如此。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是可調可靠的，可以校準以容納許多不同的樣本和應用。它可以修改為包括較冷的階段,從而增加了在低於其他SPM設計所能達到的溫度下研究材料的多功能性。總體而言，VEECO Dimension 3100掃描探針顯微鏡是一個非常強大的研究工具，使科學家能夠獲得有關樣品材料的準確和詳細的納米級信息。它具有高度靈敏的懸臂、高分辨率攝像機以及一套自動化和數據分析工具，為研究納米級現象的人們提供了寶貴的資源。