二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9364489 待售

ID: 9364489
Atomic Force Microscope (AFM) Stage movement X and Y: 150 mm With 2 micron resolution Micron area viewing video optics: 150 - 675 Zoom Piezo scan head range: X and Y: 90 Micron Z: 6 Micron Sub nanometer resolution: 16 Bits DAC Sample image size: Maximum 512 x 512 AFM Contact and tapping mode Conductive AFM STM Liquid cell Table and hood included Does not include controller.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是一種高速掃描探針顯微鏡(SPM),用於科學研究。它設計用於納米級表面和材料的成像和操作。VEECO Dimension 3100通過其獨特的控制和測量探針與表面之間的相互作用到原子水平的能力,能夠達到前所未有的分辨率和準確性。它為成像、光譜、力測量和操作提供納米尺度的控制。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100具有非接觸式AFM(原子力顯微鏡)配置,具有大型交互式X-Y級。通過這種配置,顯微鏡可以測量精細的表面地形,同時表征靜態和動態表面現象。此外,SPM能夠在空氣和流體環境中運行。Dimension 3100擁有先進的成像設備,能夠進行復雜的操作,如電力顯微鏡(EFM)、電勢顯微鏡(EPM)、導電原子力顯微鏡(CAFM)、開爾文探針力顯微鏡(Kelvin probe force mincopy,KPFM)。它還具有強大的三種成像模式--地形、表面和三維成像。在分辨率方面,VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 3100能夠在z方向上達到0.5nm,與其他系統相比增加了測量和操縱的能力。此外,其壓電組合反饋環路掃描系統顯著提高了數據質量,降低了噪聲,使得測量更加可靠。VEECO Dimension 3100還具有一個並行處理單元,它能夠以更快的速度收集大量數據,從而使用戶能夠快速調查納米結構。這臺機器還允許用戶同時進行多次實驗,使其更加高效和高效。總之,DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100對於需要納米級高級成像、表征和操作能力的科學家和研究人員來說,是一個非常寶貴的工具。憑借其獨特的特性和功能,Dimension 3100能夠為曲面測量和操作提供無與倫比的精度和控制級別。
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