二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9410551 待售

ID: 9410551
Atomic Force Microscopes (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是由DIGITAL INSTRUMENTS公司VEECO建造的先進掃描探針顯微鏡(SPM)。它設計用於測量各種樣品上的表面地形、電導率和磁性等特性。VEECO Dimension 3100擁有多項獨特的功能,使其用途廣泛,適合材料科學、半導體制造與工程、生物學、納米技術、生物技術等多個研究領域。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100配備了操縱桿控制的掃描頭和高分辨率、單色CCD相機,用於樣品成像。掃描頭通過操縱桿控制,以納米級分辨率移動懸臂。這允許用戶以高度的精確度對極小的元件進行研究。這個獨特的平臺使研究人員能夠研究單個原子甚至更小尺度的靜態和動態行為。它能夠以高達1.5 GB/秒的速率獲取數據。再者,這臺儀器也可用於控制和測量小至10皮科爾文的局部溫度變化,時間分辨率為10納秒。該儀器還可用於測量表面地形和電導率、工作功能等電性能。為此,儀器配備了壓電掃描儀,用於掃描樣品表面。成像是結合掃描力、原子力和接觸模式顯微鏡進行的。它還為實現最精確的地形和進行測量提供漂移補償。Dimension 3100的靈活軟件系統允許用戶從單個平臺進行一系列實驗。圖形用戶界面尤其人性化,包括創建一系列圖像、從一批圖像中收集統計數據等廣泛選擇的宏級操作,等等。特殊的數據分析技術(如閃爍模式)、多維數據集圖像分析和3D曲面繪圖有助於提高測量精度。對於需要附加功能的用戶,可以購買儀器的升級版。這些版本提供了額外的功能,例如增加的移動速度、擴展的視野、增強的成像速度、擴展的動態範圍和改進的溫度穩定性。總體而言,VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是科學研究的寶貴工具。它提供了許多獨特的能力,使其特別適合各種研究領域。此外,其用戶友好的界面和先進的軟件系統使操作變得輕松直觀。
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