二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 9000M #9401449 待售

ID: 9401449
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 9000M是一種功能強大的掃描電子顯微鏡(SEM),在表面地形和缺陷分析、薄膜分析、納米顆粒表征、樣品處理等成像應用領域表現出色。該顯微鏡利用掃描和透射電子顯微鏡,提供無與倫比的分辨率和成像精度。顯微鏡的核心是它的電子源,高性能肖特基場發射槍(FEG)。FEG產生一束利用一系列透鏡加速聚焦的電子束,以及一種在樣品上偏轉和掃描電子束的機制。這允許從100 nm到200 nm的各種放大設置,使用戶能夠非常詳細地檢查納米級特征。VEECO Dimension 9000M還具有可調節的高角度環形暗場(HAADF)探測器,可提高對低角度散射電子的檢測,從而提高所產生圖像的對比度分辨率。此外,光學室還配備了自動對準級,在電子源、透鏡和探測器之間提供穩定的對準和調節,使圖像質量達到最佳。DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 9000 M還包括一個先進的計算機控制系統,允許用戶輕松存儲、管理和召回成像參數。該系統還允許實時控制樣品溫度、階段高度、加速電壓和掃描速率。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 9000M還具有一個交互式軟件環境,允許自定義各種參數。這些包括樣品磁場的強度及其確切位置、樣品支架的大小和形狀以及電子束的能量。Dimension 9000M是一種全面的電子顯微鏡,其設計目的是最有效和準確地表征到低於5 nm的範圍廣泛的納米級特征。這款顯微鏡出色的成像能力,加上其用戶友好的控制系統,能夠快速準確地顯示早期SEM模型難以訪問的細節。
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