二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V #293610275 待售

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V
ID: 293610275
Atomic Force Profiler (AFP) Nanoscope V controller.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V是為研究和工業應用而設計的多功能掃描隧道顯微鏡(STM)。VEECO Dimension V為研究和工業材料的亞微米和納米級研究提供高分辨率成像和主動取樣制圖能力。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V利用多種技術以高達0.09 nm的分辨率創建樣品圖像。這些包括原子力顯微鏡(AFM)、近場掃描光學顯微鏡(NSOM)和隧道光譜。這種掃描隧道顯微鏡的多頻率成像特征允許用戶觀察各種樣品特性。Dimension V對STM圖像采用幹涉檢測系統,類似於其前身Dimension III。集成電荷耦合檢測器(CCD)比傳統的掃描隧道顯微鏡能夠實現更大的視場成像。顯微鏡的操縱器使用戶能夠精確地施加力、傾斜和旋轉樣品。它還具有多頻控制器,可對不同類型的材料進行快速、精確的成像。此外,顯微鏡還可以測量表面地形、力距離曲線和介電特性-所有這些都具有清晰度和精確度。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V具有一系列自動化例程,用於樣本處理和數據采集。在顯微鏡的液晶顯示屏上顯示樣品操作和掃描結果的視覺反饋。此外,流程數據可以存儲在計算機上,以便於進一步分析。最後,VEECO Dimension V包含一個易於使用的圖形用戶界面(GUI),允許用戶快速查看、分析和處理樣本圖像。此外,DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V與包括VEECO Portal和ImageJ在內的多種軟件兼容。最後,Dimension V是一種高度通用的掃描隧道顯微鏡,專為工業和研究應用而設計.它利用各種技術以高分辨率創建樣本圖像,並使用集成的操縱器來精確施加力。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V還具有用於樣本處理的自動化例程、其液晶顯示器上的視覺反饋以及用於查看、分析和處理圖像的GUI。
還沒有評論