二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III SPM / LSSF / DMLS #128345 待售
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ID: 128345
優質的: 1994
Atomic force microscope
Nanoscope III SPM and controller
LSSF large sample scanning stage with 6" x 6" XY travel
Optical microscope for defining the region to be scanned
Acoustic enclosure
DMLS probe
PC and monitors
1994 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III SPM/LSSF/DMLS是一種創新的掃描探針顯微鏡,使用先進的電子光學器件來允許對表面進行極精確的成像和剖面圖。它是為高分辨率成像的樣品設計的,這些樣品太小,不能用光學顯微鏡看到,並且具有各種應用的成像技術。它的一個主要特點是一個大範圍的成像模式,使各種表面特征的分析。位於系統中心的是光柱,能夠在三個維度上掃描樣品。利用激光幹涉儀,該柱可以準確定位在整個樣品上,能夠成像尺寸小至25納米的特征。Nanoscope III還具有場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)以及表面應力和芯片分析(LSSF)功能,能夠分析樣品的整體表面應力及其材料芯片的動力學。利用這一特征,研究人員可以了解樣品表面如何響應機械和環境力。它的另一個特點是差分動態顯微鏡(DMLS),它能夠直接成像與樣品表面波相關的位移。除了這些功能外,系統還具有自動還原焦點的自動反饋環路,使獲取可重復的可重復圖像更加容易,並具有可選的預掃描模式,允許實時圖像采集。納米鏡III是一種高性能顯微鏡系統,應用範圍廣泛。它非常適合於成像和分析小型結構,確定其力學性能,分析薄膜表面和缺陷,以及為開發新產品提取關鍵信息。Nanoscope III結合了強大的電子光學和分析軟件,為研究人員提供了一種能夠提供高精度圖像和測量結果的儀器,這對於研究科學和工程是必不可少的。
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