二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIIa #293586502 待售

ID: 293586502
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/Digital Instrument VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE IIIa是一種掃描探針顯微鏡(SPM),旨在以極高的精度和靈敏度產生高解析度的表面影像。該顯微鏡用於測量納米級材料和表面的性質。它有一個2軸定位設備,分辨率高達0.1海裏,能夠成像從幾個埃到幾毫米大小的樣品。VEECO Nanoscope IIIa配備了多種可帶來卓越成像能力的功能,包括閉環控制系統、精確對準單元以及先進的硬件和軟件技術。其先進的閉環控制機提供準確、自動的樣品定位和保持無漂移穩定性,而其對準工具則使掃描探頭在其掃描範圍內的所有點上保持與樣品的正確距離和正確角度。DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A提供了一系列掃描模式,包括「地形」、「高度」和「摩擦」模式。在Topography模式下,掃描儀用於調查各種表面特征,如具有亞納米分辨率的顛簸和凹陷。在「高度」模式下,掃描大小減小到一個小區域,並測量特征的特定高度。在「摩擦」模式下,探頭的尖端用於測量表面摩擦。Nanoscope IIIa配備了集成軟件套件"Nanoscope Software"",允許用戶控制顯微鏡,收集數據並分析結果。這個先進的成像軟件能夠處理各種樣本類型、成像模式和數據操作功能。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A還提供了廣泛的配件,使其成為各種實驗應用的理想選擇,包括大量的光電探測器選件、先進的掃描探頭、多個操縱器以及一系列樣品制備配件。此外,這款顯微鏡還提供了先進的數據采集和圖像分析資產,使用戶能夠快速準確地可視化、存儲和分析數據。DIGITAL INSTRUMENTS/Digital Instrument NANOSCOPE III A是納米技術領域研究人員的完美解決方案,為納米技術應用提供高分辨率成像和先進能力。這種尖端掃描探針顯微鏡是納米級成像和材料科學研究的理想選擇。
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