二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIIa #9410550 待售

ID: 9410550
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIIa是一個高精度掃描探針顯微鏡平臺,設計用於成像和測量納米級的表面結構。它結合了電子顯微鏡的最新技術進步和直觀的軟件界面,允許用戶自定義配置系統以滿足他們的應用特定要求。該儀器具有幾項創新的技術進步,以確保最佳性能。專有的「翻轉模式」定位技術能夠精確控制掃描頭位置,並確保在後續掃描中獲得的圖像數據之間的精確對準。此外,先進的對比度增強技術使用戶能夠獲得詳細的高對比度圖像並測量較小的特征大小。VEECO Nanoscope IIIa的樣本觀光模組裝有4英寸、30瓦的Lucite光源,以最大的影像解析度和對比度。抽樣階段為12 「x 12」,從而為抽樣操作提供了充足的空間。此外,樣品支架可用於傾斜角度、樣品取向和樣品表面測量的分析。數字儀器NANOSCOPE III A的數據采集和分辨率可以量身定制,以滿足特定的應用要求。16位分辨率的數字數據采集可確保精確的參數測量,並允許用戶自定義掃描速度以獲得最大分辨率。此外,還提供了用於增強成像的雙光束,提供了更高的對比度和圖像分辨率。NANOSCOPE III A是一種用途廣泛的儀器,適用於納米粒子、納米管、晶體材料的研究和半導體材料的高分辨率表征等多種應用。它還兼容了包括觸摸觸發器探針、編子和掃描電子束成像在內的多種配件。根據具體要求和樣品類型,系統可以配置為提供小至幾納米的結構的優化成像和測量。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A憑借其先進的功能、直觀的軟件界面和卓越的性能,為任何掃描探針顯微鏡應用提供了卓越的性能。
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