二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV #293630424 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ID: 293630424
優質的: 2003
Atomic Force Microscope (AFM)
Operation system: Windows NT Workstation 4.0
2003 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV是為工業、研發環境而設計的先進AFM(原子力顯微鏡)。這種柔性顯微鏡具有先進、直觀的軟件平臺,使研究者能夠以無與倫比的精度和可重復性快速地對納米標本進行測量和圖像分析。易於操作的掃描頭具有五個自由度,使探針能夠在X、Y和Z軸上移動,沿著樣品表面轉向並遠離它。它多才多藝的萬能設計使得它大多適合廣泛的樣品,甚至允許手動樣品定位和成像,以後可以以不同角度或放大倍數重復。VEECO Nanoscope IV可用於對來自不同領域和學科的各種樣本進行成像,包括材料科學、生命科學、半導體和MEMS。可用的成像能力包括地形圖、摩擦、彈性、粘合力和材料對比度等。使用掃描探針成像(SPI)技術,DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV能夠測量低至原子水平的地形。它提供100納米的高分辨率成像,最高精度高達0.2納米。憑借其清晰的圖像分辨率,Nanoscope IV甚至可以對最小的細節進行成像,幫助用戶精確測量和分析更難獲得數據。而且,它提供了廣泛的成像角度和放大倍率,使用戶能夠獲得最詳細的圖像。顯微鏡包括多個探針,具有多種彈簧常數和共振頻率,允許不受熱或其他環境影響的最佳圖像。也可用於跟蹤薄膜厚度和表面粗糙度,精度很高。此外,VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV結合了復雜的自動化功能和廣泛的圖像處理選項,包括圖像縫合、邊緣檢測和過濾。其他功能包括3 D定量數據評估、數據收集和視覺分析、用於定性樣本分析的彩色地圖、掃描速率優化以及用於快速數據處理的後分析模式。由於具有先進的功能和用戶友好的軟件平臺,用戶可以獲得準確、快速和可重復的數據。VEECO Nanoscope IV是一個強大的工具,用於成像,測量和分析我們周圍的納米世界。
還沒有評論