二手 VEECO Dimension Vx210 #9064761 待售

製造商
VEECO
模型
Dimension Vx210
ID: 9064761
Atomic Force Profiler.
VEECO Dimension Vx210是一種掃描電子顯微鏡(SEM),為廣泛的應用提供高分辨率的分析能力。它旨在為科學家和研究人員提供高級推理和缺陷分析所需的信息。尺寸Vx210配有高性能鎢絲場發射源,運行穩定可靠。這個源產生一束電子束,指向並聚焦於一個位於設備齊全的標本室的樣品。為了操作顯微鏡,研究人員使用了它的數字多軸級。這允許用戶在3D空間中準確選擇和定位樣本,並掃描和測量樣本的大面積區域。憑借其精密級,用戶能夠實現納米分辨率和獲取最大7nm寬的圖像。該系統配有多種附加探測器,使研究人員能夠從他們的樣本中獲得一系列信息。這些探測器包括用於能量色散光譜(EDS)的光譜探測器,使用戶能夠快速準確地識別樣品的元素組成。該系統還配有一個組合的Cs校正物鏡和重新收集側探測器,以提供3D表面拓撲和成像所需的所有信息。透鏡可提供高達30倍的倍增倍率,這對於識別小型復雜樣品的表面特征至關重要。VEECO Dimension Vx210還配備了Everhart-Thornley二次電子成像探測器(SEI)。該探測器收集反向散射和二次電子圖像,使用戶能夠精確成像和測量廣泛的標本類型,包括納米粒子和薄膜。最後,Dimension Vx210帶有超高真空樣品室。該腔室的設計可提供超清潔條件,使樣品在觀察和測量時不受幹擾。這對於實現可重復結果至關重要,並確保所分析的樣本都不受汙染。VEECO Dimension Vx210掃描電子顯微鏡是一種功能強大、用途廣泛的工具,非常適合尋找高分辨率分析能力的科學家和研究人員。該系統結合了數字多軸級、組合透鏡和一系列探測器,為用戶提供了一系列全面的功能,使其即使是最復雜的樣品也非常適合成像和測量。
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