二手 VEECO SXM 320 #36976 待售

VEECO SXM 320
製造商
VEECO
模型
SXM 320
ID: 36976
Atomic Force Microscope (AFM) Spare parts included.
VEECO SXM 320掃描探針顯微鏡是研究表面形態、測量納米特性、進行材料光譜的先進工具。它具有優異的光學和成像性能,是分析微納米級納米結構的絕佳選擇。SXM 320是一種緊湊、全自動的顯微鏡,內置了電動級和可編程的樣品接觸級。它具有高度通用的微觀和納米級成像系統,具有集成的上、下視圖光學、數字掃描、原子力顯微鏡(AFM)和原子層沈積(ALD)功能。該儀器可配置各種配件,包括集成光學和分析組件。VEECO SXM 320支持四種成像模式:光顯微鏡、原子力顯微鏡(AFM)、掃描電子顯微鏡(SEM)和光學剖面圖(OP)。此外,該儀器還可以通過附加的軟件和硬件選項進行升級,例如自動的樣品預裝器。SXM 320允許用戶捕捉、分析、測量和呈現各種各樣的納米尺度性質和現象。其綜合成像和分析能力包括微機械、納米技術、光譜學和表面形態成像。這款先進的納米成像儀器還內置了遠程登錄管理、溫度控制以及數據采集和存儲功能。VEECO SXM 320在圖像分辨率方面表現出色-圖像分辨率為0.3 nm,視野高達100 μ m。顯微鏡非常適合於納米級測量應用,如高級成像、基於AFM的可視化、光學輪廓測量和粒度測量。它還具有很高的精確度和精確度,在單個像素上的精確度為0.5 nm。SXM 320掃描探針顯微鏡是一種先進、最先進的儀器,旨在滿足尖端研發和工業應用的需求。VEECO SXM 320將出色的光學和成像性能與尖端微觀能力相結合,是研究和分析納米尺度性質和現象的理想選擇。
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