二手 ZYGO / IBM SXM-200 #150544 待售

製造商
ZYGO / IBM
模型
SXM-200
ID: 150544
優質的: 1998
Atomic force microscope (AFM) Input power: 115VAC, 50/60HZ, 10A Includes computer control and programmability of surface scanning Includes marble slab vibration dampening base De-installed 1998 vintage.
ZYGO/IBM SXM-200掃描電子顯微鏡(SEM)是一種先進的成像工具,用於材料科學、生物學和工程學領域的微觀成像。它具有高分辨率、高吞吐量和快速刷新率。它配備了新一代FAST掃描微米點槍、單色CCD相機,以及全新的X-Y定位微型樣機舞臺。SEM具有高分辨率靜電透鏡設備,可提供詳細的成像功能。對於高靈敏度的成像樣品,即使是原子序數較低的材料,光束電子能也可調節至30KV。高電子束功率允許對小特征進行更高分辨率的成像,確保樣品的詳細圖像。IBM SXM-200還配備了自動化的10mm標本級。這個階段可以以一微米的增量移動標本在X和Y方向上,從而讓使用者能夠精確地影像極小的區域。該階段還配備了高分辨率編碼器和絕對位置控制系統,以確保即使是微小的特征也能被準確捕獲。ZYGO SXM-200配有一個自動化裝置,用於控制和監測標本汙染。這臺機器的設計目的是盡量減少掃描過程中樣品汙染的可能性,以及減少掃描之間樣品室的汙染。此外,SXM-200還提供各種可選的分析和測量工具。X射線光譜儀提供了廣泛的分析能力,從元素分析到化學分析。二級和反向散射電子探測器對表面成像和近表面層成像具有很高的靈敏度。ZYGO/IBM SXM-200易於使用和維護,非常適合分析高度詳細的材料樣本。這使得它成為材料科學、生物學和工程學領域的科學家和工程師的重要工具。
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