二手 ACCRETECH / TSK FP 200 #9181493 待售
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已售出
ID: 9181493
優質的: 2002
Prober
Type: Frame prober
Main body with cassette loader
Probe mark inspection
Automatic probe to pad alignment
3-128 Multi-die probing
No change over kit to porous chuck 2-6-1 frames
No change over kit to ACCRETECH hot chuck 8", chuck top +55° C to 155° C
Automatic needle height alignment
Wafer ID reader (soft mark)
No barcode reader for frame ID
Ethernet I/F
GP-IB I/F 4m cable
No RS232 I/F
Multi pass probing
Needle polish stage type: 5mm Ceramic (standard)
No changing magnification of camera for probe to pad alignment x 1.5
No remote terminal kit (Ethernet CPU and Data compression board)
No head stage for SPEA C340
Porous chuck for 2-8-1 frames / CE Marked
2002 vintage.
ACCRETECH/TSK FP 200是一種高度先進的prober,旨在提供對小型組件的精確和高效探測。它采用高分辨率隔振臺、先進光學器件和閉環控制設備，以確保準確性和可重復性。集成設計在測試集成電路（IC）和印刷電路板（PCB）等細膩元件時允許更大的通用性和準確性。TSK FP 200 prober具有緊湊的設計和閉環控制系統,可與高分辨率隔振臺和先進的光學設備協同工作。這種組合可確保無論環境條件如何,都具有一致的探測力。該單元可以在步驟和接觸模式下提供快速和準確的測量，並提供精確和可重復的結果。它能夠檢測到最小的信號，與同類中的其他探針相比提供了廣泛的動態範圍。此外,ACCRETECH FP200具有高效的周期時間,允許快速執行測試而不會影響準確性。這是由於使用了先進的PID控制機器而得以實現的，它允許快速響應和高精度。它還減少了校準和編程所需的時間，從而有助於節省時間。FP200還有一個多軸對齊工具，可幫助消除與探測過程相關的潛在對齊問題。其可調參考平臺確保了與被探測設備完全對齊的探頭尖端。它可以承受的高溫和堅固的測試頭設計使它能夠在惡劣的工業環境中工作,而不會影響性能。最後,TSK FP200符合自動測試設備（ATE）接口標準,使其易於集成到大多數生產線測試系統中。此功能使其成為工業規模生產和測試應用的理想選擇。總而言之，ACCRETECH/TSK FP200是一種可靠且精密的處理器，提供一致的可重復性和準確性。其先進的功能可以在微量部件中進行精確的測量,而其耐溫性和堅固的結構使其非常適合工業應用。它與ATE接口標準的兼容性進一步促進了將其納入生產線測試系統,使其成為那些希望對小型部件進行準確高效探測的人的理想選擇。
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