二手 ACCRETECH / TSK FP 3000 #293760840 待售

ACCRETECH/TSK FP 3000 Prober是一種用於檢查半導體芯片質量的最先進的設備。該設備由TSK探測設備主機組成 （PEM）-具有雙探頭、用於將探頭定位在試驗站的多軸步進電動機平臺、用於監視和驗證探頭位置和對多個標記點的對準的視覺設備、用於串聯電路測試的視覺檢查區域 （ICT）、opto-isolator測試區域和自動更換工具（ATC）系統。ACCRETECH探測設備主機（PEM）-S是處理器的主要單元,包括微控制器、高速控制因子、數控單元和高速定位機。微控制器負責控制探頭的運動、速度和位置，而CNC工具即使在探測頻率較高的情況下也能提供更快、更平滑的操作。高速控制因子使資產在探測多點時達到高精度。高速定位模型保證了探頭的精確移動和定位精度。雙探頭由兩個高精度和高分辨率探頭組成。此設計提供了高度的多功能性,允許執行更多的測試方案。頭部還配備了壓力反饋設備，可以提供磨損和電極降解的信息；這有助於確保測試結果的準確性和質量。多軸步進電動機平臺使探頭能夠在測試站內精確定位。該系統采用除磁劑降低噪聲，保證高定位精度。這提供了在探測需要進行多次定位測量的較大芯片區域時的可重復性。視覺單元用於監視和驗證多個標記點的探針位置和對齊方式。這樣可以確保將探針精確放置在所需的測試觸點上,並且探針尖端不會損壞正在測試的設備表面。此外，視覺機器能夠檢測到短褲、破損、異常等缺陷。視力檢查區域允許進行串聯電路測試（ICT）,以驗證半導體器件的操作和質量。該工具利用了槍管和視覺探針的組合，可以確定實驗電路中是否存在故障。光隔離試驗區允許對被測裝置進行更嚴格的測試，以防止泄漏和短路條件。該資產能夠測量設備上每個隔離節點的隔離阻抗，大大提高了整體芯片功能和可靠性。最後,「自動工具更改」模型提供了一個靈活的平臺,便於快速轉換各種類型的工具。這使得prober能夠根據被測設備優化工藝參數，從而確保盡可能高的測試精度和質量。