二手 ACCRETECH / TSK MHF 300L #293601576 待售
網址複製成功!
ACCRETECH/TSK MHF 300L是一種精密探測設備,用於對電子設備進行高度精確的測量。它是一個緊湊的桌面單元與集成光學顯微鏡,這允許精確的圖像聚焦。該系統設計用於手動處理高達200微米的超細間距半導體器件。該裝置有一臺基於激光的自動探測機器,可精確測量到30納米的尺寸。該工具包括一個名為Prober Safe的基於微控制器的開放式資產,它能夠對電子設備進行安全的探測。Prober Safe模型監視探針的尖端摩擦和振動,以確保操作員與正在測試的設備之間不會發生任何有害的接觸。該設備有兩種操作模式:第一種允許使用操縱桿和夾具手動操作產品,第二種則通過執行所有必要步驟的全自動系統提供自動化操作。該裝置還有一個防靜電橡膠探針支架,有助於保護裝置免受靜電的影響,並且可以調整以確保精確探測。該機具有標準的8英寸X/Y行程長度,可通過可選的擴展表增加到16英寸。探頭臂由底座、步進電機、運動控制器和高精度伺服電機組成。手動移動是通過操縱桿實現的,每個位置都可以存儲以備將來使用。觸摸面板顯示屏顯示設備的實時圖像,允許快速、方便地導航組件和進行探測。還包括一個實時圖形模塊,用於測量輪廓的清晰可視化。該工具與行業標準的掃描電子顯微鏡兼容,允許對設備進行精確的分析和測量。它還具有高度精確的位置位移測量功能,是測量半導體元件的理想選擇。該資產還具有廣泛的配件,允許進一步定制。提供軟件選項,包括具有多種探測和數據分析功能的功能強大的軟件包。該型號還可用於掃頻掃描儀或可編程手動掃描儀。這提供了與用戶的精確要求相匹配的靈活性,包括高速和高精度掃描。TSK MHF300L是為滿足最苛刻的環境而設計的精確探測設備。它非常適合各種半導體元件,旨在提供高精度的結果。
還沒有評論