二手 ACCRETECH / TSK MHF 300L #293664535 待售

ACCRETECH/TSK MHF 300L是為薄膜材料的表征和沈積而設計的先進載體。它是一種用於評估半導體器件和基板性能的高精度儀器。Prober配備了用於即時修補的線性驅動電機系統，以及用於訪問難以到達的位置的三軸機械手。Prober包含一個300 mm晶片測試室，容納直徑達300 mm的晶片。該腔室被隔離，以防止熱噪聲，並為精確測量提供了良好的真空穩定性。Prober還具有三軸加速度表,允許對材料進行高動態表征。高分辨率的力感應前張緊器確保精細工具和晶片的精確處理。它采用非接觸式電氣元件設計,可進行高精度的文字旋轉測量。Prober裝有各種傳感器，包括溫度、壓力和光傳感器。溫度傳感器適用於-35°C至150°C範圍內的溫度測量，適用於微處理器環境。光傳感器可檢測多達四個光波長，有助於分析透明材料的性質和性質。壓力傳感器檢測施加到材料上的壓力量，從而允許精確測量測試儀與樣品之間的接觸力。Prober還與各種測試軟件兼容，包括TSK MHF軟件，其中包括一整套功能，以涵蓋廣泛的表征任務。它還設有一個用於自動化數據分析和報告的統計數據分析系統。Prober收集的數據可用於生成詳細報告，以確定半導體材料的特性。綜上所述，TSK MHF300L是一種設計用於薄膜材料表征和沈積的高精度探頭。它具有多種功能,可實現更快、更準確的表征結果。Prober配備了各種傳感器，兼容多種測試軟件，是研究和商業應用的理想選擇。