二手 ACCRETECH / TSK MHF 400 #9194866 待售

ACCRETECH/TSK MHF 400是半導體和電子工業中為薄膜分析而設計的一種prober，用於檢查各種晶片表面的各種特征，包括電阻率、電容、光學、微缺陷、薄膜測量和介電常數測量。Prober使用高度先進的系統,能夠直接測量樣品,而無需處理或清潔等任何中間步驟。該探頭具有6英寸晶圓容量，能夠在幾分鐘內快速準確地測量晶圓表面的不同元素。其高靈敏度反饋系統進一步確保了表面分析的高精度。Prober還配備了復雜但用戶友好的圖形用戶界面（GUI）。這使運算符可以輕松地操作各種參數並顯示其測量結果。GUI還具有許多功能,使用戶能夠監視各種功能,例如電源的狀態、晶圓測試狀態和prober環境的溫度。除了具有高分辨率的監測和反饋能力外，該探測器還提供各種操作功能，包括：光學變焦、車載計量、電氣測試和微拉曼測量。光學變焦功能允許操作員放大晶片，以極高的精度檢查其特性的細節。板載計量利用prober的內置系統對晶圓上的各種特征進行精確、可重復的測量。然後可以使用這些測量來確保符合適用的行業標準。TSK MHF 400的電氣測試特性為測試晶圓的電阻和電容提供了先進的解決方案。它還具有敏感的表面材料掃描算法，使操作員能夠實時觀察晶圓的性質。微拉曼特性使用戶能夠在微觀水平上檢查晶片表面的物理特性，這對於分析難以檢查的區域至關重要。ACCRETECH MHF400 Prober由於其精巧的設計和先進的功能,是各種要求苛刻的應用程序的理想選擇。其直觀的設計讓即使是沒有經驗的操作員也能充分利用prober的能力，讓他們能夠輕鬆快速準確地測量晶圓的性質。