二手 ACCRETECH / TSK SA-2400 #9270842 待售

ACCRETECH/TSK SA-2400是專門為薄晶圓探測而設計的高度先進的prober。這種裝置非常適合檢查和測試厚度在0.2mm至2mm之間的晶片，非常適合在微電子學、生物醫學工程、光子學等領域使用。TSK SA-2400具有幾個特點，例如它能夠精確檢測和測量晶片上的電性能。ACCRETECH SA-2400可用於測量各種物理和電氣特性,包括片狀電阻、載流子濃度和液晶參數。此外,其電動Z-Axis功能能夠精確測量從0.2mm到2mm的各種厚度。此外，SA-2400提供了一個精確的晶片級和可移動的晶片級，可用於在模型板和電動機之間進行快速和方便的微調。ACCRETECH/TSK SA-2400提供了其他幾種功能,使其成為用於薄片探測的特殊設備。例如，它具有易於訪問的光學系統，具有掃描電子顯微鏡（SEM），可實現精確清晰的成像，即使在薄片上也是如此。另外，TSK SA-2400有一個全場激光微波幹涉儀（LMI）來精確測量樣品的介電常數，並檢查樣品的電氣優化。ACCRETECH SA-2400還配備了全場電光傳輸測量系統（EOTM），對樣品的整個表面進行高精度掃描，能夠快速準確地查明缺陷區域。此外，該裝置還配備了強大的壓力表，可以精確測量通向晶圓的空氣壓力。此外，SA-2400還采用了一種創新的幹式探針系統，能夠安全可靠地進行探測。ACCRETECH/TSK SA-2400具有多種特性和功能，被證明是薄片探測的絕佳選擇。此設備為用戶提供成功的探測任務所需的多功能性和精確度,以及易用性、可靠性和準確性。使用工具箱中的此prober,您可以確定您擁有可用於薄晶圓探測的最佳設備。