二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #293615530 待售

ACCRETECH/TSK UF 200是一種prober，設計用於進行表面無破壞性電氣測試。它旨在快速準確地測量半導體材料和器件的電性能，以找出問題。Prober專為支持薄晶片和超細螺距器件的測試需求而設計。該探測器采用介電力顯微鏡（DFM），可精確測量半導體材料在低頻和高頻下的準靜態介電特性。它還包括一個致動力溫度控制器（AFTC），以在測量和測試過程中保持溫度穩定性。DFM和AFTC的結合使得無論溫度波動如何，都可以精確測量半導體材料和器件的電性能。Prober有高分辨率光學顯微鏡和數字視頻處理器，允許用戶觀察晶圓和被探測設備的微觀特征。該設備還具有高級控制軟件包,為用戶提供對所有設備參數（包括測試角度和力）的直觀控制,以實現最佳信號捕獲。Prober還包括一個自動自定心單元校準（SUC）系統,可用於將探針尖端精確對齊並居中於樣品邊緣。這樣可以確保不會發生未對齊和不準確的探測。Prober還包括一些安全功能,允許用戶在進行測試時保持安全。其中包括振動和聲波信號，視覺指示，以及在發生不安全情況時發出的聲音警報。TSK UF 200 prober提供可靠、可重復和準確的測試結果。它是晶圓測試、體系結構測試、檢測開孔和短孔缺陷、分析線鍵、器件表征和CAD設計以及測量半導體材料準靜電特性的理想解決方案。