二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #293617575 待售
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單擊可縮放
ID: 293617575
優質的: 2000
Automatic wafer prober
Chuck top
Z-Unit
X-Axis screw / X-Motor
Y-Axis screw / Y-Motor
F-Axis screw
E1 Camera module
E2 Camera module
Joystick
Touch panel / keyboard
Alarm lamp pole
Docking: Hinge
TEMPTRONIC Chiller
Relay board
Power control board
Loader 5-axis board
Stopper
Loader
VME Rack:
Slot 1: Master CPU
Slot 4: VGA Card
Slot 6: COGNEX Board
Slot 8: PIO Board
Slot 10: GPIB Board
Slot 11: (5) CH PGEN Boards
Slot 14: Disp sensor
Slot 16: Slave CPU
Slot 17: Loader I/O
Slot 18: Loader PGEN
Floppy disk
Hard Disk Drive (HDD)
Read side:
Driver board
Moire divider board
Loader side:
Loader driver board
Loader sensor board
Cassette cover
Elevator motor driver
Sub-chuck rotation motor driver
Turntable motor driver
(2) Transfer motor driver arms
Sub-chuck
Pre-alignment sensor
(2) Arms
Inspection tray
Temperature controller
Elevator / clamper
Control rack:
Z-Axis driver
X Servo driver
Y Servo driver
Missing parts:
MO Disk
Keyboard control board
Chiller
Power supply: (2) 24 V, +12 V, -12 V, 5 V, +48 V
2000 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200 Prober是專門為生產測試而設計的自動化探測和測試設備。它提供了全面的功能集，具有完全的可編程性和靈活性，可以處理各種各樣的設備，如FET、陶瓷基板、集成電路和混合晶片。該系統基於模塊化和可擴展的進料和出料（IOF）單元,具有緊湊的設計,使其能夠適應大多數生產線的工作空間。它還配備了直觀、圖形化的用戶界面和優化軟件，提供自學功能、自動化工具選擇和數據分析，以最大限度地提高測試效率。TSK UF 200 Prober能夠以高達每小時200晶圓的速度運行，一次集成多達七個不同的接觸探針。機器配有高分辨率相機，通過縮放到指定坐標，使其能夠精確定位每個晶片。此外,該工具還提供了用於精確測量的多點測量功能。此功能允許同時測量同一基板上的多達64個不同點,從而確保了非常精確的結果。Prober還包括一個基於計算機的探測程序編輯器，它允許用戶以高度的靈活性輕松創建和修改測試程序。此功能允許用戶進一步自定義自己的設置，並使他們能夠創建復雜的測試程序，如組合探測或擴展掃描。此外，資產還配備了一個統計過程控制套件，與生產過程並行監測、記錄和報告晶圓缺陷和屈服特性。這些功能與ACCRETECH UF 200強大的結構和高度直觀的軟件相結合,使其成為批量生產應用程序質量、成本和產量管理的理想的一體生產模型。
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