二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #9091007 待售

ACCRETECH/TSK UF 200是專門為集成設備的電氣和光學測試而設計的prober。Prober支持對吞吐量高達2000個樣本/小時的設備進行快速、精確的測試。對於需要快速可靠的設備表征的應用,prober是理想的選擇。TSK UF 200 prober是為最苛刻的IC測試而設計的半自動設備。它是一個多站點系統，支持測試同一個測試夾具中的多個設備或多個測試夾具中的多個設備。該探頭包括一個基礎晶片載波單元、一個自動測量機、一個立體顯微鏡、三個探針臂、一個16位數據采集工具和各種電源。基礎晶片載流子資產采用低振動、非磁性材料塗覆，減少探針振動，提高測量精度。該型號設計為減少用戶端的時間和成本，因為它可以容納模具粘合、成型、熱固化等各種搬運設備。同時，該設備能夠快速掃描晶片，高效測量多個芯片參數，精度高。自動測量系統便於以640 x 750 x 250 mm的LxWxH大小精確探測每小時多達2000臺設備。自動裝置包含精確的CCD相機，鏡頭放大倍率和全自動機械舞臺。矽片高度的精確調整保證了探針和觸點的精確對準。這確保了電氣參數的精確測量。40倍放大的立體顯微鏡用於現場模具檢查。該單元有效地生成景深約2.4毫米的清晰圖像，用於精確識別測試點。三個探頭臂配有許多堅固可靠的N8/N4/N2提示，以確保探測過程中的準確接觸。它們帶有固定或旋轉的提示,以確保靈活調整和精確探測即使是最細膩的觸點。這臺16位數據采集機能夠精確測量各設備的參數，達到納米級。該工具可以同時測量多達200個通道，最大采樣率為100 kHz，分辨率為4微伏。電源使用戶能夠設置不同的電源並實現設備的精確測試。利用低噪聲和高壓電源的多個輸出，用戶可以精確測量包括Vth、Idsat、載波濃度、擊穿電壓等參數。總體而言,ACCRETECH UF200 prober是需要快速、可靠和準確的電氣和光學設備測試的應用程序的理想選擇。自動測量資產可以以2000個樣本/小時的速率精確測量多個芯片參數。具有立體聲顯微鏡、多探針臂、16位數據采集模型、多種電源等一系列特性，prober允許最大程度的測試精度和靈活性。