二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #9091011 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ACCRETECH/TSK UF 200探測站是一種用於表面分析和檢查的高分辨率、全自動探測儀。其3軸級系統實現了精確、可重復的精度,並提供了廣泛的應用可能性。TSK UF 200的納米級精度由其高精度的球形螺釘和直線電機級實現。X和Y軸提供250-μ m的行程,而Z軸可以配置為容納300-μ m或500-μ m的行程。ACCRETECH UF200還具有2500萬 (0.635-mm)分辨率的觸摸探頭,數據收集速率為4秒/幀。ACCRETECH UF 200可用於測量一系列地形特征和材料特征,如表面粗糙度和磨損。其高分辨率成像能力可用於創建幾乎任何結構或材料的表面圖像。此外,它的4位光柵技術具有高達13幀/秒的掃描速度和用於改進成像對比度的噪聲抑制濾波器。除測量外,UF 200還提供多種功率輸出,用於環路測試。這可以用於檢測汙染,計算外形尺寸,測量反射率等等。UF200還支持定量塗層厚度測量,包括一個電導率傳感器,用於測試膜粘附。為確保可靠、高精度的測量,ACCRETECH/TSK UF200配備了板載計算機單元。該機使用數據庫和400 MHz處理器,使其能夠執行數據采集、分析和判斷等精確操作。該工具還可以連接到外部計算機和一系列軟件程序。它支持以太網和USB連接,可輕松與其他設備集成。TSK UF200還具有一系列特殊功能,如激光定位器和一系列光學探測器。總體而言,ACCRETECH/TSK UF 200是一種高級、高精度的探測資產,適用於各種應用。其精確的測量和強大的軟件功能使其具有高度的通用性,其可靠的功率輸出非常適合檢查表面特征。它還可以很容易地集成到現有的表面分析模型中,或者直接連接到自動化的機器視覺設備。在任何配置中,TSK UF 200都是精確、可重復測量的理想選擇。
還沒有評論