二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #9233248 待售

ACCRETECH / TSK UF 200
製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 200
ID: 9233248
Prober.
ACCRETECH/TSK UF 200是一款專為檢測、分析和表征設備而設計的處理器。它特別適合於半導體晶圓和DRAM(動態隨機存取存儲器)芯片測試,適用於廣泛的研發(R&D)以及生產環境。TSK UF 200配備了高分辨率100X光學顯微鏡和高分辨率CCD(電荷耦合器件)相機,用於捕捉有缺陷部位的表面圖像和圖像。它還包含一個X、Y和theta軸的微鏡級,以及一個3D非接觸光學顯微鏡。ACCRETECH UF200具有4英寸晶圓容量,最大壓力為10 psi/5 Bar。它還配備了真空卡盤機構和SEM(掃描電子顯微鏡)成像模式。UF 200具有實時故障分析和快速缺陷映射算法,用於跟蹤和識別缺陷。它還包括一個數據捕獲設備,其中包括晶圓圖和故障日誌歷史記錄的快速訪問數據庫,以改進可追蹤性和故障設備特性。UF200在一對12位雙模擬伺服電動機上操作,並結合各種類型的探針卡和其他傳感器來分析各種部件。它具有異國情調的數字圖像處理器、多維配準功能和FFT(快速傅立葉變換)。其先進的視覺系統可以分析和處理設備信息,而專用的CCD/攝像頭可立即提供測試結果反饋和可操作的項目記錄。這使得ACCRETECH UF 200非常適合廣泛的半導體器件缺陷檢測和分析應用。TSK UF200是為可靠性和高性能而設計的。它采用臭氧濃度和去離子過濾器進行環境管理,為可靠的觀測提供無汙染物的樣品表面。此外,它還帶有溫度敏感樣品的溫度控制。ACCRETECH/TSK UF200也有TSK全面的產品保修和服務包作為後盾。最後,ACCRETECH/TSK UF 200是一種用於檢測、表征和分析半導體和DRAM器件測試需求的先進儀器。它具有許多高端功能,包括具有實時故障分析和快速缺陷映射算法的數據捕獲單元。其先進的視覺機器和數字圖像處理器提供了可靠的結果,而其內置的溫度控制和臭氧過濾器則提供了一個適合溫度敏感樣品的環境。
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