二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #9260034 待售

ACCRETECH/TSK UF 200是一種專門為滿足半導體行業需求而設計的prober解決方案。它是一個全自動晶圓探測系統，提供高度精確的測量精度，更快的探測時間和可靠的測試性能。TSK UF 200能夠處理200mm-300mm範圍的晶圓尺寸，為工藝開發、質量控制和故障分析提供高分辨率光學顯微鏡。它可以同時測量多達32針,以獲得非常精確的結果。ACCRETECH UF200還提供了幾種探針技術來支持不同類型的晶圓。這些探針技術能夠測量晶圓的物理、電氣和化學特性，從微米尺度到幾毫米。對於物理性質，UF 200具有AFM（原子力顯微鏡）和SEM（掃描電子顯微鏡）功能。AFM使用戶能夠確定樣品的拓撲和平滑度,直至原子尺度,而SEM提供晶圓表面和地下細節的高分辨率圖像。電特性，如電阻，可以用FIB（場離子顯微鏡）測量，而ACCRETECH/TSK UF200也支持CV和IV技術進行更強健的電氣測試。利用這些各種技術，TSK UF200可以測量重組中心、Shockley-Read-Hall參數和接口狀態密度等。化學性質，例如晶圓表面存在的氧化態或化學態，可以利用ACCRETECH UF 200的俄歇電子光譜（AES）能力來測量。AES使用戶能夠了解被探測晶片的化學成分，從而在工藝開發和故障分析方面有進一步的了解。總體而言，UF200是一種高性能的晶片prober解決方案，帶有多種技術來測量半導體晶片的各種物理、電氣和化學特性。它是一種功能強大、全自動的工具,可在半導體行業中提供高度可靠和準確的測量結果。