二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #9270836 待售

ACCRETECH/TSK UF 200 Prober是一種精密矽探測系統，用於測試矽晶片上的元件。這種精密儀器是為需要精確和可重復性的研發和生產測試應用而設計的。擁有12倍變焦的高分辨率光學CCD顯微鏡，提供優越的影像品質。TSK UF 200還具有先進的模對齊系統,可實時調整探針卡位置,以確保與被測設備對齊。ACCRETECH UF200有一個集成的四點探頭，設計用來測量元件上的開路電阻和電容。它還具有可選的電流源和測量可編程模式。此功能允許用戶以圖形或波形的形式更好地觀察設備電流的微小變化。這有助於診斷工作條件問題或驗證設備溫度測試的電流消耗。UF 200具有直觀、用戶友好的GUI,可實現快速、高效的編程、設置和操作。它支持串行通信和多種編程語言等多種API活動。這允許集成和自動化到各種過程中,包括在多個模具上進行並行、同時測試,或在單個模具上進行組合測試。該prober是為快速晶片探測和處理而構建的，周期時間僅為0.25秒。它極其精確和高度可重復性，精確分辨率為3 μ m，精度± 1 μ m，可重復性為1 μ m。這使用戶能夠信任他們的結果,並確保他們正在測試可重復、統一的條件。UF200也可用於高真空環境,因為它的設計可承受3.0 mbar的最大工作壓力。這適用於大多數應用，但也可以在更高壓力範圍內使用定制系統。總體而言,ACCRETECH UF 200 Prober是一個非常精確、快速和高效的解決方案,用於Si晶片上組件的研發和生產測試。其高分辨率顯微鏡、先進的模對齊系統、直觀的GUI使其易於編程和使用，而其快速的循環時間和精確的分辨率使其可重復、可靠、值得信賴。