二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #9283875 待售

ACCRETECH/TSK UF 200是一種為各種半導體器件的晶圓級探測、測量和測試而設計的prober。TSK UF 200旨在滿足復雜晶圓級工藝控制應用的需求。它采用雙顯微鏡成像和晶圓級探測的組合，允許用戶可視化和測量低至100納米的特征。ACCRETECH UF200采用獨一無二的四軸電動級，在保持可靠準確的穩定平臺的同時，針對高速精度進行了優化。這使得它非常適合直接檢查小型設備。電動級可以高速、非常精確的方式在X和Y兩個方向上移動對齊，與各種測量參數容量較大的晶圓槽架類型兼容。UF 200還配有集成光學顯微鏡，配有可見光圖像傳感器。圖像傳感器能夠通過內部CCD攝像機捕獲和顯示表面拓撲圖像。此外，這種顯微鏡有一個內置的自動聚焦功能和照明手段收集最高質量的圖像可用。這為客戶在探測和測量其設備結構時提供了更準確的結果,並具有更小的功能尺寸。作為UF200包的一部分,它帶有兩個集成的探頭,每個探頭具有3毫克的掃描分辨率。這使得它非常適合探測小到100納米的特性，每一個頭部具有一個專用的自動卡盤為快速和方便的連接。采用雙頭設計,可以顯著減少樣品布局,從而加快探測時間並提高吞吐量。TSK UF200還具有先進的探測能力，允許用戶在原子水平上精確測量和測試設備。這使他們能夠檢測和分析設備缺陷,包括連接泄漏、過程變化和其他設備特性。為了進一步提高準確性和改進數據分析,ACCRETECH UF 200配備了功能強大的軟件包,可實時獲取數據並生成數據報告。該軟件還提供強大的圖像處理和分析功能,使用戶能夠快速檢測和分析數據,這有助於過程控制和缺陷分析。最後,ACCRETECH/TSK UF200還具有獨特的振動和溫度控制系統,可確保最大精度的讀數,同時消除來自外部源的幹擾。這使得它特別適合自動化、可靠和可重復的數據收集。