二手 ACCRETECH / TSK UF 2000 #9234261 待售

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製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 2000
ID: 9234261
優質的: 2007
Prober Docked: ST6730A Probe card: Auto card changer Manipulator: HF: MHF4000S Chuck stage: Chuck: Ni Temperature: Hot chuck Temperature range: 30° C ~ 150° C Needle cleaning: Cleaning unit Size: 200 x 100 Tester I/F: GPIB CPU Type: 7509 Ethernet OCR Board configuration: Slot / Board 1 / VME7509 Master CPU 4 / TTL/GP-IB 6 / MR-MC01-S101 SSC NET 7 / DAKT-04 2007 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 2000是一種專為晶圓故障分析、晶圓預磁帶設計和自動化測試而設計的prober。該設備構建在模塊化平臺上,為生產線提供了靈活性和可擴展性。該系統具有一個映射單元,該單元自動檢測探測器位置,並通過使用前向映射掃描自動校準晶圓映射。集成探針機具有高精度探針(最大0.2 µm精確度)和一些下遊特性,如手動覆蓋、X-Y行程、擺動和掃描位置調整。該工具還包括一個強大的圖像處理算法,用於檢測探針尖端形狀,並對接觸面和非接觸面執行自動保護帶。該算法使用靜態和動態掃描方法的組合來識別和隔離上模墊幾何形狀、接觸點、保溫層和接觸區域。這有助於提供非接觸式探測功能,並降低觸摸電路和造成損壞的風險。該資產允許對來自各種半導體器件的晶片進行手動或自動測試。在設置晶片對齊和探測後,TSK UF 2000可以在用戶幹預最少的情況下從頭到尾運行序列。該模型可同時探測多達106組500針晶片。該設備的自動化模型能夠以更高的準確性和可重復性減少總測試時間。該系統還與現有設備集成,為整個晶圓測試過程創建完整的自動化解決方案。ACCRETECH UF 2000的綜合功能使其成為晶圓故障分析、預磁帶設計和自動測試應用程序的理想工具。它可靠、易於使用和高度可定制,為晶圓探測、處理和測試提供了經濟高效的方法。
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