二手 ACCRETECH / TSK UF 2000 #9399175 待售

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製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 2000
ID: 9399175
優質的: 2010
Prober Docked: Hinge Automatic probe card HF: MHF4000S Chuck stage: 120 kgf Chuck type: Nickel Hot chuck Temperature range: 30°C - 150°C Needle cleaning: Ceramic Cleaning unit size: 110 x 205 Tester I/F: GPIB CPU Type: ADVME 7509A Ethernet OCR: Type 6 Board configuration: 1/4/6/7 2010 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 2000是一種通常用於分析電氣和物理半導體晶圓特性的prober。它能夠探測直徑達200毫米的晶片,具有高度的精度和可重復性。該設備還可用於測量參數化、晶片化和探針卡性能。為了充分了解TSK UF 2000的工作原理,熟悉系統的組件非常重要。主要組件為XY線性級、電動Z級、帶CCD攝像機對準的視覺單元、用於對準的prober臂、用於探測的prober頭以及可由主機PC通過串行端口控制的prober接口。ACCRETECH UF2000機設計用於主動探測,可以自動移動到所需的位置並進行接觸。該工具還允許手動探測和對齊。電動Z級可用於控制裝置表面與探頭之間的間隙,從而保持均勻接觸。利用CCD相機的視覺資產來檢測設備和晶圓表面,而prober head則用來檢查設備上的測試觸點並收集數據。在主機PC的控制下,可以手動移動或自動操作prober頭。此外,還使用prober接口板將prober頭連接到主機PC。ACCRETECH/TSK UF2000模型允許直接探測具有主動參數測量的接觸點,以及探針卡測試和接觸電阻測量。此外,設備還配備了Test Ace和DC/AC Test Pro.等多種軟件工具,可用於編程測試和測量電壓、電流、功率和電阻等參數。總體而言,ACCRETECH UF 2000是一款功能強大且用途廣泛的處理器,可用於半導體器件的各種測試操作。該系統配備了容易對準、電動Z級、主動探測、參數測量等多項功能,能夠高效執行可靠的測試操作。
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