二手 ACCRETECH / TSK UF 200A/AL #9250506 待售

ACCRETECH/TSK UF 200A/AL是一種用於檢查和檢測精密曲面上的表面缺陷的處理器。它利用大面積、25微米的探頭尖端精確測量表面特性，如平坦度、粗糙度或輪廓。該設備提供了高度精確的結果，可用於各種應用，包括半導體器件晶圓探測，以及用於設計目的。該系統由測量頭、控制器、檢測器和試驗區四個主要部分組成。測量頭是一個單一單元，具有獨特的光學單色相機，使用激光直接觀看。這提供了所檢查表面的最佳視圖。Prober是測量頭的臂狀延伸，末端有一個小面積的探針尖端，以接觸被檢查的材料並進行掃描。這種小面積探頭設計的垂直精度非常高，達25微米，可以檢測到刮痕、滾動痕跡、波紋等表面異常。測試區為手動X-Y臺，可容納各種晶圓尺寸和測試樣品，如平板顯示器和陶瓷電子包裝。控制器是一個先進但用戶友好的界面，可用於控制prober等功能的手臂運動。控制器還具有多項創新功能，如內置光學測量模塊，可以計算出表面傾斜度、步高、表面輪廓、平坦度下降到納米級。它還有一個圖形用戶界面，可以方便地操作設備。TSK UF200A/AL prober是一種多用途、用戶友好的機器，為表面檢查和故障拍攝提供高精度和精確度。它也很容易維護，提供出色的支持能力。憑借其豐富的特點設計和可靠的性能，是現代制造和工程中各種檢驗測試應用的理想選擇。