二手 ACCRETECH / TSK UF 200A/AL #9395547 待售

ACCRETECH/TSK UF 200A/AL是一種用於測試各種半導體基板的載體。它為晶體管、電容器和柵極結構的精確可靠的測量提供了先進的功能。TSK UF200A/AL配備了高性能的prober head、激光劃線鋁探針卡和開環間隙控制。這些組件與高性能光學器件和強大的電動機一起,為精確探測高達5 μ m的設備提供了極好的組合,而且對準問題最小。另外，有了內置的力控制，它可以處理範圍廣泛的裝載力，從0.1到10g不等。ACCRETECH UF 200AAL還提供了可選的集成晶圓表征系統,使用戶能夠快速分析信號性能,而無需復雜的外部儀器連接。這為測量輸出和設備特性（如可編程邏輯和內存設備）提供了改進的測試環境。為方便起見,UF 200 A/AL配備了集成的XY表。這允許用戶輕松地移動和定位探頭下方的晶片，提供了一個優越的對準和放置探頭跨越晶片。這樣可確保每個設備的測試結果準確且可重復。為了確保安全和設備保護，ACCRETECH UF 200 A/AL配備了高壓保護電路。這樣可以防止因過電壓而損壞探針卡和晶片。此外,Intelligent Status Monitor系統允許用戶監視狀態和參數,為診斷問題和確保最佳操作提供可靠的工具。此外,UF 200A-AL還附帶一個易於使用的軟件包,允許用戶創建測試程序並將探測器與晶圓對齊。這將創建一個用戶友好且高效的測試設置,從而確保快速而準確的結果。總體而言，ACCRETECH/TSK UF 200 A/AL為半導體晶圓探測和測試提供了一個強大而可靠的解決方案。其先進的特點，如高性能前置頭、激光劃線鋁制探針卡、開環間隙控制、力控制、集成XY臺、高壓保護電路等，為改進測試環境，完成困難的測試任務提供了便利。這與集成的表征系統和用戶友好的軟件包相結合，使UF 200A/AL成為測試和探測半導體基板陣列的理想選擇。