二手 ACCRETECH / TSK UF 200D #9118412 待售

ACCRETECH/TSK UF 200D是用於晶圓測試和計量應用的最先進的prober。設計用於矽晶片和非矽晶片的探測、制圖、分析和檢驗。TSK UF 200D是一種全自動探測系統，可以精確測量晶圓表面獨立映射區域上設備的電氣特性。它具有高吞吐量、高可靠性的測試過程，能夠在單個晶圓圖中測量多達七個不同的電氣參數。ACCRETECH UF 200D在探測能力方面提供了多種選擇,提供了卓越的測試精度和靈活性。它配備了雙傳感器配置，允許晶片面積最大7英寸，以及一個兩級傳感器頭，可以在晶片表面以200 µm的最大Z軸移動。這允許探測各種大小和間距,以及各種測試結構和不同類型的結構,如軟顛簸和高長寬比特征。Prober還包括一個晶圓厚度監視器，用於測量0.3至1.2mm範圍內的晶圓厚度。UF 200D還提供各種測試選項,例如電氣IV、C-V或泄漏電流測試。它具有一個加速器盒，可以減少環境對電氣特性的影響，給測試結果帶來很高的穩定性。晶圓映射過程是通過一個專有的軟件系統完成的，該軟件系統控制prober head的移動並確保質量映射和測試性能。該系統還配備了晶片卡盤，允許快速、精確的受控樣品放置。ACCRETECH/TSK UF 200D是為可靠和可重復的性能而設計的。它配備了硬件和軟件功能,可提供自我診斷和維護功能,從而最大程度地減少停機時間並提高流程吞吐量。它還通過了質量保證ISO9000和ISO9001標準的認證。總體而言,TSK UF 200D prober為運行質量測試過程提供了準確、高效和可靠的解決方案,並在最短的時間內提供了質量結果。它用途廣泛，可以處理各種探測應用，並為晶圓的測量和測試要求提供最大的靈活性。